Medición de Resistencias de Valores Óhmicos Bajos por Método de Cuatro Hilos

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Maximiliano Sebastian Schöninger
Lucas Agustin Statkiewicz
David Alejandro Ayala
Jorge Alberto Olsson
Hector Rolando Anocibar

Resumen

El objetivo de este trabajo ha sido implementar un prototipo de medición de resistores de bajo valor óhmico, en un
rango de uno hasta cien ohms, utilizando un amplificador operacional para el control y un transistor bipolar para la
etapa de potencia, siguiendo el método estándar de medición de cuatro hilos.
Para el desarrollo del mismo se establecieron tres etapas fundamentales. Primeramente, se diseñó el circuito mediante cálculo y consideraciones teóricas siguiendo las recomendaciones de la cátedra de Mediciones Electrónicas de la Facultad de Ingeniería. En relación a ello se simuló el mismo en un software especifico de electrónica, sujeto a estos fines. Seguidamente se dispuso el modelo circuital en una placa experimental. Luego se diseñó y construyó el circuito impreso para el ensamble de los componentes, ajuste y puesta a punto.
Con el sistema propuesto, asumiendo como verdadero valor, el nominal del resistor a medir, se obtuvieron incertidumbres menores al uno por ciento, en los extremos del rango de medición. Del análisis de los resultados obtenidos se concluyó que se logró cumplir los objetivos de implementar un sistema de medición de resistores de bajo valor óhmico, con bajos costos y componentes de fácil adquisición e incertidumbres de
medición menores que la mayoría de los instrumentos comerciales.

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Sección
Articulos - Trabajos de Investigación

Referencias

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